ESD静电放电测试通常根据IEC 进行的。

这个测试是确定外部的静电放电或由ESD产生的感应场、二次放电，是否会对产品产生影响。可能的放电部位包括任何可接触的控制件、电缆连接器或其他可接触的金属件。

放电电压为±4KV、±8KV或±16KV，具体数值取决于产品的使用环境或实际使用。

对于这种测试，几类性能判据可能是可接受的。性能判据的分类参考ESD标准IEC ，但受试产品的数据丢失、系统的重新启动或损坏通常认为是测试不合格。在通常的测试中，ESD施加在EUT的不同点上，同时观察其性能是否发生变化。

仅有导体会发生ESD，而对绝缘体或抗静电材料则不会。

如果存在裸露的金属，那么对此金属进行放电就会产生ESD。

如果不能阻止ESD电流瞬态，那么就必须控制放电电流的路径。

如果能搞清楚放电电流的路径并对其进行改变，是一种更实际的解决办法。如果已知ESD电流的注入点，那么确定电流离开产品的可能的点将是很有帮助的。由于涉及高频高达1GHz，放电电流的一些路径可能是通过电容而不是沿着导线。

在进行ESD电流的可能路径时，我们可以认为通过高频时-电容是短路的，导线是开路的，这样可以对电路的电流路径进行简化分析。